Рентгенівські флуоресцентні спектрометри серії EDX，розсіяння енергіїXФлуоресцентний спектрометрЗастосувати доRoHS & WEEEАналіз командВимірювання товщини різних металевих пленок, вимірювання товщини промислового покриття, галогенні директивиClЕлементарний аналізАналіз складу руди, сировини, магнітних магнітних середовищ та напівпровідниківАналіз складу золота та дорогоцінних металів.
Рентгенівські флуоресцентні спектрометри серії EDXОсновні особливості
●Аналіз діапазону елементівS-U

●Диапазон концентрацій аналізованих елементів 2ppm—100%
●Постійна стабільність8Вимірювання годинRSD<0.25%
● ROHS/WEEEЧас виявлення100-120секунди

●Імпорт холодильної енергії СШАSi（Pin）Детектори

●Електричне охолодженняSi（Pin）Детектор Площа кристалів15mm2Розвільна здатність<155eV
●Повністю цифрові імпульсні процесори

●Відмінне співвідношення піків, надзвичайно висока чутливість до аналізу слідів

● 50KV,50WСамозахистX-Променні труби

●Технологія інтелектуального перемикання композитних фільтрів

Особливості:

☆Точний аналіз хлору та свинцю в фарбах

☆ІнтеграціяFPЗакон,AlphaКоефіційний метод, метод досвіду

☆Безпечний пристрій з'єднання, конструкція випромінювання з м'якою і жорсткою комбінаціями

☆Проста робота, однією кнопкою миші

☆Інтеллектуальне програмне забезпечення для автоматичного налаштування параметрів та вибору фільтрів

☆XПроменний захист від надтемператури

☆Електронне охолодження без рідкого азоту та інших споживальних матеріалів

Технічні характеристики