Член VIP
Аналізатор рентгенівського флуоресцентного спектру енергії дисперсії EDXRF
Огляд продукту Малий розмір розсійного рентгенівського флуоресцентного спектрального аналізатора, хороша стабільність, швидкий та точний аналіз, низьк
Подробиці про продукт
Огляд продукту
Невеликий розмір рентгенівського флуоресцентного спектрального аналізатора, хороша стабільність, швидкий та точний аналіз, низькі експлуатаційні витрати, зручне обслуговування та експлуатація є ідеальним вибором для контролю якості продукції. Можна визначити свінець Pb, ртуть Hg, кадмій Cd, хром Cr, бром Br та інші елементи. Кремнієві напівпровідники для вищої чутливості завдяки розумній конструкції стимуляції та виявлення, що дозволяє користувачам налаштувати багатокриві методи спектрографії та аналізу для різних застосувань.
|
Пункт |
Опис вмісту |
|
|
Модель інструменту |
EDXRF |
|
|
Принцип аналізу |
Рентгенівський флуоресцентний аналіз енергетичної дисперсії |
|
|
Аналіз діапазону елементів |
Na(11)-U(92) будь-який елемент |
|
|
Виявити нижню межу |
Cd / Hg / Br / Cr / Pb≤2 ppm |
|
|
Форма зразка |
Необмежений розмір, нерегулярна форма |
|
|
Тип зразка |
Пластик / метал / плівка / порошок / рідина тощо |
|
|
Рентгенівські труби |
мішень |
Мольбіден (Mo) мішень |
|
Труба напруги |
5─50KV |
|
|
Труба струму |
1─1000ｕA |
|
|
Діаметр випромінювання зразка |
2, 5, 8 мм |
|
|
Детектори |
Імпорт США Si-PIN детектор, високошвидкісна система аналізу висоти імпульсів |
|
|
Генератор високого напруги |
Американський генератор високого напруги SPELLMAN |
|
|
Передній підсилювач |
Імпортний передній підсилювач з США, хороша сумісність з імпортними детекторами з США |
|
|
Головний підсилювач |
Основний підсилювач імпорту США, хороша сумісність з імпортними детекторами США |
|
|
Модуль перетворення AD |
Модуль конвертації AD імпорту США, хороша сумісність з імпортними детекторами США |
|
|
АДК |
2048 рік |
|
|
Фільтри |
6 фільтрів для автоматичного вибору та автоматичного перетворення |
|
|
Спостереження за зразками |
1,3 мільйона кольорових камер CCD |
|
|
Програмне забезпечення для аналізу |
Програмне забезпечення Версія BX-V26, безкоштовне довічне оновлення |
|
|
Методи аналізу |
Теоретичний альфа-коефіцієнт, основний параметричний метод, емпіричний коефіцієнт |
|
|
Програмне забезпечення для операційної системи |
Windows XP (справжня версія) |
|
|
Системи обробки даних |
Хост |
Бізнес-модель ПК |
|
процесор |
П4 3.0 |
|
|
Пам'ять |
512 МБ |
|
|
Оптичний диск |
8xDVD |
|
|
Жорсткий диск |
80G |
|
|
Монітор |
17-дюймовий рідкокристалічний дисплей |
|
|
Робоче середовище |
Температура 10-35С, вологість 30-70% РВ |
|
|
вага |
60 кг (основна частина) |
|
|
Розміри |
550 (Ш) × 450 (Г) × 450 (В) мм |
|
|
Вимоги до зовнішнього живлення |
AC220 ± 10%, 50 / 60 Гц |
|
|
Визначення умов |
Атмосферне середовище |
|
|
Час тестування зразка |
100-300 секунд регулюється |
|
|
Температура навколишнього середовища |
10℃-28℃ |
|
|
Вологість навколишнього середовища |
≤70% RH (25 ℃ кімнатна температура) |
|
Сфера застосування
Аналізатори рентгенівського флуоресцентного спектру EDXRF використовуються для нафтохімічних продуктів, пластиків та полімерів, продуктів харчування та косметики, навколишнього середовища, руди, медицини, будівельних матеріалів, центральних лабораторних перевірок готової продукції, металевих матеріалів тощо.
Принцип роботи
Використовуючи принцип рентгенівського флуоресцентного аналізу, кожен елемент в стимульованій зразку випромінює вторинні рентгенівські промені, і вторинні рентгенівські промені, випромінювані різними елементами, мають певні енергетичні властивості або довжини хвиль. Система вимірює енергію та кількість випромінюваних вторинних рентгенівських променів. Потім програмне забезпечення інструменту перетворює інформацію, зібрану системою виявлення, на типи та кількість різних елементів у зразку.
Структура інструменту
Інтеграція методів аналізу, таких як метод емпіричного коефіцієнту, метод фундаментальних параметрів (метод FP), повністю гарантує точну продуктивність тестових даних.
Емперічний коефіцієнт: інструмент визначає коефіцієнт впливу на основі вимірювання стандартних зразків. Вимоги до стандартних зразків високі, необхідність схожа на тип зразка для вимірювання, модель корекції проста.
Основний параметричний метод (метод FP): інструмент визначає параметри на основі фактичного виявлення речовини шляхом розрахунку моделювання різних фізичних величин. Вимоги до стандартних зразків не високі, обчислення складніше, підходить для відсутності відповідних зразків для тестування речовини.
Функції програмного забезпечення
|
1 |
Аналіз вмісту елементів в діапазоні від 2 ppm до 99,99% |
|
2 |
Використання внутрішньої корекції BG для підвищення точності вимірювання неякісних зразків |
|
3 |
Користувацькі налаштування багатокривих методів спектрографії та аналізу |
|
4 |
Повністю автоматизований звіт про кількісний аналіз |
|
5 |
Адаптивна корекція початкового випробування |
|
6 |
Автоматичне отримання та відображення спектру. |
|
7 |
Має функцію автоматичного виявлення стану роботи інструменту. |
|
8 |
Автоматичне визначення зразків та автоматичний аналіз. Надання розширених інтерфейсів для подальшого аналізу інших елементів, від кальцію до урану. |
Імпорт апаратного забезпечення
|
1 |
Імпорт США Si-PIN детектор, високошвидкісна система аналізу висоти імпульсів |
|
2 |
Американський генератор високого напруги SPELLMAN |
|
3 |
Імпортний передній підсилювач з США, хороша сумісність з імпортними детекторами з США |
|
4 |
Основний підсилювач імпорту США, хороша сумісність з імпортними детекторами США |
|
5 |
Модуль конвертації AD імпорту США, хороша сумісність з імпортними детекторами США |
Інтернет-дослідження
-
Контакти
-
Компанія
-
Телефон
-
Електронна пошта
-
WeChat
-
Код перевірки
-
Вміст повідомлення
-