Сканіруюча електроскопія-Ламанська спектральна комбінація дозволяє проводити мікрозональний аналіз in situ зразка для систематичного аналізу зразка. З огляду на те, що дані сканування електроскопу можуть бути отримані з однієї і тієї ж точки, як і дані Раманського спектру, можна швидко і інтуїтивно характеризувати зв'язок між морфологією поверхні зразка та молекулярною структурою матерії. На основі зображення SEM можна більш точно провести швидкий і безпроблемний аналіз складу речовини в області вибору зразка для отримання точних даних про склад зразка.

Приклад 1: Характеризувати співвідношення PO4/SO4 в мінералі фосфату алюмінію на мікронівому рівні та визначати складні склади алюмінію, що складаються з алюмінію і фіброфосфату

Приклад 2: Раманський спектральний аналіз для досягнення рівня частинок уранілових мінералів

Приклад 3: Ідентифікація одношарової та багатошарової областей в підготовлених зразках графену